时序、信号完整性以及功耗问题在当代复杂IC设计中变得更具有挑战性,尤其是在65纳米及以下工艺。EMpyrean RCExplorer可在纳米级标准单元设计中进行单元级的寄生参数提取,也可以利用Empyrean Argus或第三方LVS工具进行晶体管级的寄生参数提取。 同时,Empyrean RCExplorer可提供基于版图和网表的点到点寄生参数和时延的快速分析,可以广泛应用于版图编辑、后仿debug、PG分析、RdsON分析和ESD分析等应用,提供给用户快速准确的寄生参数分析优化解决方案。
 
       Empyrean RCExplorer的快速寄生参数分析功能。可无缝嵌入华大九天大规模版图设计平台Empyrean Aether、Empyrean Skipper,进行版图任意两点间电阻分析。同时,RCExplorer可以基于其它第三方提取工具输出的寄生参数文件(DSPF)进行任意线网端口间电阻、电容和时延分析,任意节点间电阻、电容和时延分析,以及RdsON分析,并将分析结果反标回版图供查看。从而在芯片版图设计的各个阶段为设计者提供快速准确的寄生效应分析结果。
 
       此外,RCExplorer还可用于两个DSPF文件的比较,分析线网间耦合电容、端口间电阻的差异,帮助设计者对IC版图有效进行版本管理和对比。
 
       结合仿真工具输出的Fsdb文件,Empyrean RCExplorer可以获取版图中实时的端口电压,并结合网表中的电阻网络,对全版图或者指定线网做电压、电流以及电流密度的计算,并以图形化的方式向用户展示计算结果,帮助用户直观的了解到版图中功耗较为集中的区域。
 

【Empyrean RCExplorer产品详情】
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